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　 　　1． SPC 

　　SPC(Statistical Process Control)即统计过程控制，
是20世纪20年代由美国休哈特首创的。SPC就是利用统计技术
对过程中的各个阶段进行监控，发现过程异常，及时告警，
从而达到保证产品质量的目的。这里的统计技术泛指任何可
以应用的数理统计方法，而以控制图理论为主。但SPC有其历
史局限性，它不能告知此异常是什么因素引起的，发生于何处
，即不能进行诊断，而在现场迫切需要解决诊断问题，否则即
使要想纠正异常，也无从下手。 

　　2． SPD 
　　SPD(Statistical Process Diagnosis)即统计过程诊断，
是20世纪80年代由我国质量管理专家张公绪首次提出的。1980
年，张公绪提出选控控制图系列。选控图是统计诊断理论的重
要工具，奠定了统计诊断理论的基础。1982年，张公绪又提出
了“两种质量诊断理论”，突破了传统的休哈特质量控制理论，
开辟了质量诊断的新航向。此后，我国又提出“多元逐步诊断理
论”和“两种质量多元诊断理论”，解决了多工序、多指标系统
的质量控制与质量诊断问题。从此，SPC上升为SPD。SPD是利用统
计技术对过程中的各个阶段进行监控与诊断，从而达到缩短诊断异
常的时间、以便迅速采取纠正措施、减少损失、降低成本、保证
产品质量的目的。 目前，我国依据上述诊断理论已开发出两种诊
断软件。一种是依据“两种质量诊断理论”开发的应用软件SPCD
2000，用于诊断多工序生产线中上工序对下工序的影响；另一种
是依据“多元逐步诊断理论”和“两种质量多元诊断理论”开发
的多元诊断软件DTTQ2000，用于多因素相关条件下的诊断。而后
者同时也考虑了上工序对下工序的影响。 

　　3． SPA 
　　SPA(Statistical Process Adjustment)即统计过程调整，
是SPC发展的第三个阶段。SPA可判断出异常，告之异常发生在何
处，因何而起，同时还给出调整方案或自动调整。SPA从90年开
始提出，目前尚无实用性成果，正在发展之中。 4． 接近零不
合格品过程的SPC在通常的SPC中，控制对象是不合格品，在接近
零不合格品过程中，大量产品为合格品，而不合格品仅偶而出现，
故控制对象也自然由不合格品数改换成为相邻不合格品间的合格品
数。从而引出一系列新理论，构成了一个新学科。我国清华大学孙
静博士就是接近零不合格品过程的质量控制专家，提出了多项达到
国际水平的成果，如接近零不合格品过程的判异准则、判稳准则，
接近零不合格品过程的CUSUM控制图、EWMA控制图等成果。而CUSUM
控制图、EWMA控制图远优于国外的两阶段控制图法。　 [/center]